สมาชิกวีไอพี
การกระจายพลังงาน X-ray Fluorescent Spectrometer EDX8800 (ชนิดสูญญากาศ)
บทนำอย่างง่าย: การกระจายตัวของพลังงาน X-ray Fluorescent Spectrometer EDX8800 (ชนิดสูญญากาศ) ช่วงการวิเคราะห์องค์ประกอบจากโซเดียม (Na) ถึงยูเรเนียม (U)
รายละเอียดสินค้า
บทนำรายละเอียด:
การกระจายพลังงาน X-ray Fluorescent Spectrometer EDX8800 (ชนิดสูญญากาศ)
คุณสมบัติของผลิตภัณฑ์
1. ใช้เครื่องตรวจจับซิลิคอนดริฟท์ SDD (SILICON DRIFT DETECTOR) นำเข้าจากต่างประเทศที่มีความละเอียดสูงซึ่งช่วยเพิ่มขีด จำกัด การตรวจสอบขององค์ประกอบแสงและขีด จำกัด การตรวจสอบมาตรฐานเพิ่มขึ้น 100 เท่าเมื่อเทียบกับเครื่องตรวจจับ SI-PIN ช่วงการวัดที่กว้างขึ้นโดยทั่วไปครอบคลุมความต้องการการวิเคราะห์องค์ประกอบวัสดุทั่วไปต่างๆ
2. กำหนดค่าระบบประมวลผลข้อมูลแบบรวมที่นำเข้าจากสหรัฐอเมริกาความเร็วในการรวบรวมข้อมูลได้เร็วขึ้นการวัดที่มีเสถียรภาพมากขึ้นความสามารถในการทำซ้ำและเสถียรภาพในระยะยาวได้ดีขึ้น
3. กำหนดค่าซอฟต์แวร์การวัดพิเศษที่พัฒนาขึ้นใหม่รวมวิธีการคำนวณกราฟิกที่หลากหลายข้อมูลการวัดมีความแม่นยำและมีเสถียรภาพมากขึ้น
4. ซอฟต์แวร์ตรวจสอบสถานะการทำงานของส่วนประกอบหลักของอุปกรณ์หลักทำงานได้เร็วขึ้น
5. การกำหนดค่าระบบสูญญากาศที่พัฒนาขึ้นเป็นพิเศษประสิทธิภาพของสูญญากาศที่ดีขึ้นและผลการทดสอบที่ดีขึ้น
พารามิเตอร์ทางเทคนิค:
1. การวิเคราะห์องค์ประกอบมีตั้งแต่โซเดียม (Na) ถึงยูเรเนียม (U)
2. การวิเคราะห์เนื้อหาองค์ประกอบตั้งแต่ 1ppm ถึง 99.99%
3. ขีด จำกัด การตรวจจับต่ำ: 1 ppm
4. เวลาในการวัด: 60-200 วินาที (ปรับได้)
5. แหล่งจ่ายไฟสำหรับเครื่องมือ: AC220 ± 5V
6. ความละเอียดพลังงาน 129 ± 5eV
7. กระแสไฟขาออกขนาดใหญ่ของหลอด X-ray: 1mA
8. ความดันสูงสุด: 6.7 × 10-2Pa
9. ขนาดช่องตัวอย่าง: 610 * 320 * 100 (มม.) (ไม่ดูดฝุ่น) / Φ100 * h75 (มม.) (ช่องตัวอย่างสูญญากาศ)
10. ความสามารถในการทำซ้ำได้หลายครั้ง (ขึ้นอยู่กับตัวอย่างมาตรฐาน): ± 0.05% (เนื้อหาสูง) / ± 0.002% (ร่องรอย)
11. ความมั่นคงในการทำงานในระยะยาว (ขึ้นอยู่กับตัวอย่างมาตรฐาน) ± 0.06% (เนื้อหาสูง) / ± 0.0025% (ร่องรอย)
สอบถามออนไลน์
-
ติดต่อ
-
บริษัท
-
โทรศัพท์
-
อีเมล์
-
วีแชท
-
รหัสยืนยัน
-
เนื้อหาข้อความ
-